芯天成可靠性平臺(tái)EsseChar
EsseChar
EsseSIM
EsseSanity
EsseTime
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
芯天成特征化提取工具EsseChar，是國(guó)微芯自主開(kāi)發(fā)的新一代特征化工具，基于自主高效的負(fù)載均衡分布式系統(tǒng)，內(nèi)嵌高速仿真軟件、機(jī)器學(xué)習(xí)引擎，能快速抽取客戶在先進(jìn)工藝節(jié)點(diǎn)所需要的先進(jìn)模型（包括不同PVT下CCS、LVF、Aging等模型），SoC設(shè)計(jì)平臺(tái)一體化設(shè)計(jì)，能夠快速簡(jiǎn)便地實(shí)現(xiàn)單元庫(kù)特征化需求，并無(wú)縫反饋到時(shí)序分析平臺(tái)、功耗分析平臺(tái)、可靠性設(shè)計(jì)平臺(tái)等，真正實(shí)現(xiàn)數(shù)字全流程一體化。
核心優(yōu)勢(shì)
快速蒙特卡羅LVF單元建庫(kù)；
業(yè)界領(lǐng)先的老化庫(kù)建模功能；
高效率負(fù)載平衡分布式平臺(tái)；
最差時(shí)序工作條件自動(dòng)選取；
支持先進(jìn)工藝時(shí)序簽核精度。
產(chǎn)品功能
支持NLDM、NLPM、CCS、LVF等多種模型；
支持快速蒙特卡洛仿真LVF建庫(kù)；
先進(jìn)機(jī)器學(xué)習(xí)算法幫助快速收斂；
支持標(biāo)準(zhǔn)單元、接口單元及各種定制單元；
模型精度符合簽核標(biāo)準(zhǔn)。
應(yīng)用方案
數(shù)字設(shè)計(jì)基礎(chǔ)單元庫(kù)開(kāi)發(fā)；
晶圓廠設(shè)計(jì)服務(wù)部門(mén)PDK套件；
Fabless廠商定制單元建庫(kù)；
SoC開(kāi)發(fā)中的多工藝角ReChar。
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
芯天成并行電路仿真工具EsseSIM，是國(guó)微芯自主研發(fā)的新一代SPICE高精度、高性能、大容量電路仿真工具，可應(yīng)對(duì)高度集成的多功能電路設(shè)計(jì)仿真需要，如post-layout仿真、電路可靠性仿真等，為模擬電路設(shè)計(jì)、電路單元特征化、混合電路和數(shù)字電路模塊驗(yàn)證等提供更好的仿真解決方案。
該產(chǎn)品基于分層次存儲(chǔ)和電路分割并行引擎架構(gòu)，集成SPICE仿真技術(shù)、高性能仿真技術(shù)、多線程和分布式并行計(jì)算技術(shù)以及交互式仿真技術(shù)，支持業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)SPICE模型和Verilog-A模型，同時(shí)兼容商業(yè)SPICE輸入輸出文件，為成熟和先進(jìn)技術(shù)節(jié)點(diǎn)電路設(shè)計(jì)提供可靠的SPICE精度電路仿真，且隨著計(jì)算資源的增加，仿真速度也會(huì)相應(yīng)提升。配備了電路圖輸入圖形界面和高性能信號(hào)波形顯示工具，并提供了一個(gè)集成的電路調(diào)試環(huán)境，幫助快速查找解決電路仿真問(wèn)題。
核心優(yōu)勢(shì)
提供電路分層存儲(chǔ)及分割并行計(jì)算引擎；
支持眾多MOS/DIODE/BJT器件電路模型；
支持用戶自定義模型或者VerilogA模型；
支持晶體管老化引起的電路可靠性仿真；
支持多線程多CPU及分布式并行仿真；
集成交互式仿真及信號(hào)波形顯示調(diào)試功能。
產(chǎn)品功能
支持多種仿真分析如TRAN、DC、AC、Noise、TranNoise等；
支持多種參數(shù)變化模式如Linear、Monte-Carlo、Bisection等；
支持晶體管老化引起的電路可靠性仿真分析；
支持并行加速仿真，可多核/CPU，多節(jié)點(diǎn)，云平臺(tái)部署；
支持成熟和先進(jìn)技術(shù)節(jié)點(diǎn)標(biāo)準(zhǔn)SPICE模型；
支持用戶自定義SPICE模型或者自定義Verilog-A模型；
兼容Hspice和Spectre輸入文件，多種輸出文件；
支持多種波形文件輸出格式以及眾多測(cè)量語(yǔ)句；
支持任意時(shí)間點(diǎn)交互式瞬態(tài)仿真、增量仿真；
配置電路圖輸入及信號(hào)波形顯示GUI。
應(yīng)用方案
模擬電路設(shè)計(jì)和驗(yàn)證仿真；
數(shù)字電路單元特征化仿真；
晶體管老化可靠性設(shè)計(jì)仿真。
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
芯天成單元庫(kù)正確性檢查工具EsseSanity，是國(guó)微芯自主開(kāi)發(fā)的綜合性IP數(shù)據(jù)分析管理應(yīng)用平臺(tái)，采用現(xiàn)代圖形界面以及數(shù)據(jù)庫(kù)技術(shù)，能快速分析管理驗(yàn)證海量單元庫(kù)。質(zhì)量檢查、趨勢(shì)分析、表格分析、異常點(diǎn)檢測(cè)等功能可以快速定位單元庫(kù)的潛在問(wèn)題，幫助加速簽核。IP數(shù)據(jù)管理能夠?qū)?shù)據(jù)進(jìn)行解析，并按文件類型進(jìn)行分類，同時(shí)提供關(guān)鍵信息的快速查看功能，幫助用戶掌握IP數(shù)據(jù)的整體情況。單元庫(kù)建庫(kù)一體化設(shè)計(jì)、單元庫(kù)的對(duì)比檢查以及IP數(shù)據(jù)管理等功能，能夠在同一個(gè)窗口管理所有工作，大大提高建庫(kù)人員和設(shè)計(jì)人員的協(xié)同工作效率。
核心優(yōu)勢(shì)
圖形界面多PVT一鍵式建庫(kù)；
支持多個(gè)庫(kù)的PPA對(duì)比分析；
內(nèi)嵌Tcl解釋器便于調(diào)試；
IP數(shù)據(jù)解析速度快，且占用資源少；
IP庫(kù)驗(yàn)證RUNSET腳本智能化構(gòu)建。
產(chǎn)品功能
單元庫(kù)的結(jié)構(gòu)化查看；
單元庫(kù)多角度質(zhì)量檢查；
單元庫(kù)多角度質(zhì)量檢查；
DRC、LVS批量運(yùn)行；
IP數(shù)據(jù)綜合分析管理。
應(yīng)用方案
單元庫(kù)簽核前檢查；
多PVT質(zhì)量分析；
設(shè)計(jì)套件可靠性檢查；
Liberty大數(shù)據(jù)分析；
IP數(shù)據(jù)綜合管理查看。
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
芯天成靜態(tài)時(shí)序分析工具EsseTime，是針對(duì)高可靠性場(chǎng)景下芯片時(shí)序分析的全新要求開(kāi)發(fā)的產(chǎn)品，綜合考慮老化效應(yīng)以及工藝波動(dòng)效應(yīng)，協(xié)同EsseChar的老化庫(kù)建模模塊以及EsseSanity多工藝角性能分析優(yōu)化功能，能夠準(zhǔn)確地分析和優(yōu)化芯片關(guān)鍵路徑的時(shí)序余量，為保證芯片設(shè)計(jì)功能正確性和穩(wěn)定性提供強(qiáng)有力的支撐。
核心優(yōu)勢(shì)
靈活強(qiáng)大可靠性時(shí)序分析引擎；
實(shí)現(xiàn)近SPICE仿真級(jí)計(jì)算精度；
精確串?dāng)_噪聲信號(hào)完整性分析；
多線程及分布式架構(gòu)提升性能；
關(guān)鍵路徑網(wǎng)表展示及交互查詢；
多工具時(shí)序報(bào)告分析對(duì)比功能。
產(chǎn)品功能
支持CCS/NLDM模型；
支持各種不同偏差分析；
支持器件退化影響分析；
支持關(guān)鍵路徑變化對(duì)比；
GUI界面信息查看對(duì)比；
標(biāo)準(zhǔn)化TCL命令結(jié)合圖形操作。
應(yīng)用方案
芯片設(shè)計(jì)時(shí)序簽核檢查；
車(chē)規(guī)芯片老化情況估算；
標(biāo)準(zhǔn)單元工藝波動(dòng)影響；
輔助布局布線時(shí)序約束；
結(jié)合良率工具診斷分析。
